NI PXIE - 4145 是美国国家仪器（NI）公司推出的一款高性能、高精度的源测量单元（SMU）模块，主要应用于各类对电信号测量与激励精度要求极高的测试测量场景。在半导体参数测试领域，它可对半导体器件的伏安特性进行精准测量，助力半导体工艺认证与芯片性能评估；在电池研究方面，能精确模拟电池充放电过程，测量电池容量、内阻等关键参数，为电池研发与质量检测提供可靠数据支持；
在材料电学性能测试中，可用于测量材料的电阻、电容等电学参数，辅助材料研发与质量控制。
从硬件设计来看，该模块采用了先进的电路设计与高性能元器件，确保其在产生高精度电信号源与测量微小电信号时的准确性与稳定性。在软件层面，它与 NI 的 LabVIEW 图形化编程环境深度集成，用户可通过 LabVIEW 便捷地对模块进行配置、控制以及数据采集与分析，极大降低了开发难度，提高了测试系统搭建效率。
产品参数
- 电压源输出：
- 范围：具备多个量程，如 ±10V、±1V 等，可满足不同测试需求 。
- 精度：典型精度可达满量程的 ±0.01%，例如在 ±10V 量程下，精度可至 ±1mV，能够精准输出稳定电压信号 。
- 分辨率：高达 16 位，意味着可对电压进行极为精细的调节与测量 。
